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電子顯微鏡
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UVM-1™全光譜顯微鏡的設計是將紫外-可見-近紅外成像技術和顯微技術相結合,能夠實現紫外-可見-近紅外的成像。具有前沿技術的結合CRAIC創新設計的光學技術,用戶僅用一臺顯微鏡就能在整個寬光譜范圍內完成顯微成像,無論是高分辨能力,還是光譜成像能力。
快速簡便的前處理設備 放入樣品 -設置鍍膜時間 -按下開始鍵 低電壓鍍膜對樣品無損傷,不會影響樣品形貌
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